Hakkımızda
Ürünler
Sertifikalarımız
Temsilcilikler
İletişim
ELİPSOMETRE (Kaplama kalınlığı Ölçüm Sistemi)
Türkiye temsilciliğini yaptığımız ve Alman
SENTECH
tarafından üretimi yapılan film kalınlığı ölçüm cihazları spektroskopik elipsometre ile çok kolay ve kesin sonuç vermektedir. Sadece film kalınlığı ölçen FTPadv-1 ve FTPadv-2 modelleri ile, kaplama kalınlığının yanı sıra kırılma indisi de ölçebilen gelişmiş modelleri vardır.
Opsiyonel olarak sunulan Mapping ünitesi ile kaplamanın haritasını bile çıkarabilmek mümkündür. Gelişmiş modellerde Source ve Receiver farklı açılarda ayarlanabilmektedir.
Anasayfa
Ana Menü
Anasayfa
Hakkımızda
Ürünler
Sertifikalarımız
Referanslarımız
Servisler
Temsilcilikler
Bizden Haberler
Site Haritası
İletişim
English
Bayi Girişi
Kullanıcı Adı:
Şifre:
DESTEK HATTIMIZ
Ankara 0312 215 90 94
İstanbul 0212 635 06 11